Repositorio Institucional Aramara

Effects of Na incorporation and plasma treatment on Bi2S3 ultra-thin layers

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dc.contributor.author Moreno-Garcia, H.
dc.contributor.author Messina, S.
dc.contributor.author Calixto-Rodriguez, M.
dc.contributor.author Martinez, H.
dc.date.accessioned 2017-03-08T18:18:25Z
dc.date.available 2017-03-08T18:18:25Z
dc.date.issued 2015-12
dc.identifier.issn http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2015.12.011 es_ES
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/123456789/79
dc.description As-deposited bismuth sulfide thin films prepared by means of a chemical bath deposition were treated with argon AC plasma. In this paper, we present the results on the physical modifications which were observed when a pre-treatment, containing a solution of 1 M sodium hydroxide, was applied to the glass substrates before depositing the bismuth sulfide. The bismuth sulfide thin films were characterized by X-ray diffraction, energy dispersive X-ray spectroscopy, scanning electron microscopy, atomic force microscopy, UV–VIS, and electrical measurements. The XRD analysis demonstrated an enhancement in the crystalline properties, as well as an increment in the crystal size. The energy band gap value was calculated as 1.60 eV. Changes in photoconductivity (σp) values were also observed due to the pre-treatment in NaOH. A value of σp = 6.2 × 10−6 (Ω cm)−1 was found for samples grown on substrates without pre-treatment, and a value of σp = 0.28 (Ω cm)−1 for samples grown on substrates with pre-treatment. Such σp values are optimal for the improvement of solar cells based on Bi2S3 thin films as absorber material. es_ES
dc.description.abstract Las películas delgadas de sulfuro de bismuto depositadas, preparadas por medio de una deposición química del baño, se trataron con Argón AC plasma. En este trabajo se presentan los resultados de las modificaciones físicas observadas Cuando se aplicó un pretratamiento, que contenía una solución de hidróxido de sodio 1 M, a los sustratos de vidrio antes Depositar el sulfuro de bismuto. Las películas finas de sulfuro de bismuto se caracterizaron por difracción de rayos X, energía Espectroscopia de rayos X dispersiva, microscopía electrónica de barrido, microscopía de fuerza atómica, UV-VIS, y eléctrica mediciones. El análisis XRD demostró una mejora en las propiedades cristalinas, así como una Incremento en el tamaño del cristal. El valor de la brecha de banda de energía se calculó como 1,60 eV. Cambios en la fotoconductividad (Σp) también se observaron debido al pretratamiento en NaOH. Un valor de σp = 6,2 × 10-6 (Ω cm) -1 fue Encontrado para muestras cultivadas en sustratos sin pretratamiento, y un valor de σp = 0,28 (Ω cm) -1 para las muestras Cultivadas sobre sustratos con pretratamiento. Tales valores de σp son óptimos para la mejora de células solares basadas en Sobre películas delgadas Bi2S3 como material absorbente. es_ES
dc.language.iso eng es_ES
dc.publisher Thin Solid Films es_ES
dc.relation.uri Público en general es_ES
dc.rights info:eu-repo/semantics/openAccess es_ES
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0 es_ES
dc.source http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609015012481 es_ES
dc.subject Bismuth sulfide es_ES
dc.subject Thin films es_ES
dc.subject Plasma treatment es_ES
dc.subject Na incorporation es_ES
dc.subject.classification INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA [7] es_ES
dc.title Effects of Na incorporation and plasma treatment on Bi2S3 ultra-thin layers es_ES
dc.type info:eu-repo/semantics/article es_ES


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